箱变温升测试仪HN系列可定制
HNDL系列全自动大电流发生器测试系统箱变温升测试仪 HN系列 可定制
应用于母线槽、频率50Hz开关、电流互感器和其它电器设备的电流负载速断试验及温升试验。用于电力设备或成套的大电流试验。
在光伏发电系统中，如何提高系统的整体效率，一个重要的途径就是实时调整光伏电池的工作点，使之始终工作在功率点附近，这一过程就称之为功率点跟踪(maximumpowerpointtracking,MPPT)。MPPT基本原理理论上讲，只要将光伏电池与负载完全匹配、直接耦合（如负载为被充电的蓄电池），负载的伏安特性曲线与功率点轨迹曲线即可重合或渐进重合，使光伏电池处于输出状态。但在日常应用中，很难满足负载与光伏电池的直接耦合条件。
二、技术指标
1.输入 交流50Hz , 220/380V。
2.可三相平衡的输出0—50000A交流大电流。运行时段可自行设定,电流值客户选定。
3. 输出开口电压：0-20V.
4.电流精度 ：各电流均可平滑平稳连续可调，精度0.5级.电流电压表显示为真有效数值，精度高、稳定度高。
输入输出： 1. 输入： 电源：AC220V/380V； 调压器端输入电源：AC380V，三相；10.4触摸屏；电源开关，1 个； 校正按钮；调压器的零点和满度的限位开关； 电流互感器，3 个；
外接触发停止信号，默认为常闭，断开即停止电流输出和计时；PulseMode可模拟脉冲对设备的影响，能够设置脉冲的电压、频率、脉冲波形的占空比、角度、波形以及运行时间等参数，能够进行电压跌落和电网低频干扰度试验等。StepMode可模拟渐变电压/频率对设备的影响，能够设置步进电压、频率、角度以及运行时间等参数，同时具备功率扫描功能，从而能够进行电压波动抗扰度试验等。APM可编程交流电源除了拥有强大的波形仿真功能外，还具备高功率密度，高可靠性，的特点，同时兼容屏幕触控和按键的人工操作界面等优点，易于操作，内置设定突波，陷波功能，还内置符合IEC61-4-11/IEC61-4-14/IEC61-4-28/IEC61-4-13标准测试要求波形，可为用电设备模拟输出正常或异常等电源输入，满足用电输入测试要求。
2. 输出：
电源指示灯，1 个，红色； 160128 液晶屏；继电器，驱动交流接触器，用于控制调压器电源的通断；
减速电机，正反转及调速； 蜂鸣器，用于按键提示音和报警；
1、按照设定电流值输出一个自动稳定的电流，0-5000A；显示：在 0-50A 输出电流范围内，显示小数点后两位小数；50-5000A，显示 1 位小 数；显示：实时显示输出电流时间：999.99 秒；保留小数点后两位数字；
2、校正功能，通过比对钳形电流表读值与输出读值，计算出偏差系数；可将此系数 输入系统；后续系统输出值，均为通过偏差系数校正后的读值；可通过 USB 接口与 PC 机通讯，上传数据到 PC 机，并可保存数据为 txt 文件；
3、可连接微型打印机，打印输出数据；默认工作模式下，按停止键后，调压器无电压输出，减速电机停止工作，并不将调压器归为零位；
可通过按自动返回键，使减速电机工作，将调压器归到零位；可通过外接的一个常开或常闭信号，使系统停止电流输出和计时；可通过触摸屏 设定其为常开停止或常闭停止；可查看上溯 30 次的电流输出记录；
常规的SPI接口总线是双数据线全双工的同步通讯总线，在芯片的管脚上占用四根线。这里将介绍一种半双工的，单数据线，且编程器作为从机的通讯协议，这次的通讯时钟比较高，达到了10MHz。标准的SPI通讯协议SPI是串行外设接口(SerialPeripheralInterface)的缩写，是一种高速，全双工，同步的通讯协议。SPI通常需要四根线，它们是MOSI(数据输出)、MISO(数据输入)、SCLK(时钟)、SS(片选)。
三、操作方法
1、仪器接入380V电压，在将仪器后面电流输出端子与被测品接通构成电流回路接线端子要紧固。面板上的常闭触点要接到被测品的辅助常闭触点上。
电流输出线与常闭触点接入后，注急停按钮不要按下每次试验结束后，都要按下面板归零按钮让调压器自动归零位外部干扰——电子设备或系统以外的因素对线路、设备或系统的影响。外部高电压、电源通过绝缘漏电而干扰电子线路、设备或系统。外部大功率的设备在空间产生很强的磁场，通过互感耦合干扰电子线路、设备或系统。空间电磁对电子线路或系统产生的干扰。工作环境温度不稳定，引起电子线路、设备或系统内部元器件参数改变造成的干扰。电磁干扰的传播途径1.当干扰源频率较高，且干扰信号波长比扰对象结构尺寸小，则干扰信号可认为是辐射场，以平面电磁波形式向外辐射电磁场能量，并进入扰对象的通路。
2) 自动升流：
自动试验时，每次都要先选择“参数设置”来设置输出电流大小。做长时间运行可自由设定运行时间。在连接仪器测试线前，应先检查各项调压器是否归零。急停按钮是否关闭。输出电流2500A以上时，电流输出线一定要紧固。试验时间≤300s。另外，晶体管也可能产生相似的爆裂噪声和闪烁噪声，其产生机理与电阻中微粒的不连续性相近，也与晶体管的掺杂程度有关。半导体器件产生的散粒噪声由于半导体PN结两端势垒区电压的变化引起累积在此区域的电荷数量改变，从而显现出电容效应。当外加正向电压升高时，N区的电子和P区的空穴向耗尽区运动，相当于对电容充电。当正向电压减小时，它又使电子和空穴远离耗尽区，相当于电容放电。当外加反向电压时，耗尽区的变化相反。当电流流经势垒区时，这种变化会引起流过势垒区的电生微小波动，从而产生电流噪声。